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• 穩(wěn)科WK4100系列LCR測(cè)試200kHz
• 4120頻率范圍20Hz~200kHz 雙頻測(cè)試,四項(xiàng)參數(shù)顯示 0.1%?基本**度,266PCS/分產(chǎn)量~540PCS/分 測(cè)試參數(shù):Z,?Rac,?C,?D,?L,?Q,?B,?G,?X,?Y,?Rdc

• 穩(wěn)科WK4100系列LCR測(cè)試100kHz
• 4110頻率范圍20Hz~100kHz 雙頻測(cè)試,四項(xiàng)參數(shù)顯示 0.1%?基本**度,266PCS/分產(chǎn)量~540PCS/分 測(cè)試參數(shù):Z,?Rac,?C,?D,?L,?Q,?B,?G,?X,?Y,?Rdc

• 穩(wěn)科65120P系列高頻LCR測(cè)試儀120MHz
• 1J65120P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 120MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相...

• 穩(wěn)科6550P系列高頻LCR測(cè)試儀50MHz
• 1J6550P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 50MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)...

• 穩(wěn)科6530P系列高頻LCR測(cè)試儀30MHz
• 1J6530P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 30MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)...

• 穩(wěn)科6520P系列高頻LCR測(cè)試儀20MHz
• 1J6520P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 20MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)...

• 穩(wěn)科6515P系列高頻LCR測(cè)試儀15MHz
• 1J6515P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 15MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)...

• 穩(wěn)科6510P系列高頻LCR測(cè)試儀10MHz
• 1J6510P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 10MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)...

• 穩(wěn)科6505P系列高頻LCR測(cè)試儀5MHz
• 1J6505P? ? 頻率范圍 20Hz ~ 5MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV?~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′???相對(duì)介...

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表10MHz
• 5400P6H 10MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表3MHz
• 5400P6M 3MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表1MHz
• 5400P6L 1MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表10MHz
• 5400P3H 10MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表3MHz
• 5400P3M 3MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• 穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表1MHz
• 5400P3L 1MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度 基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制

• AT817D數(shù)字100KHz電橋LCR
• AT817D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。精簡(jiǎn)了AT817的部分功能，內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，相對(duì)于AT817更為優(yōu)惠的價(jià)格，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)

• AT811數(shù)字電橋LCR
• AT811 精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路，大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V，1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

• AT810A數(shù)字20KHz電橋LCR
• AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù)，使其性能無(wú)可挑剔。 內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨率0.001Hz，并且提供任意電平設(shè)置，分辨率0.01V，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

• AT810D數(shù)字10KHz電橋LCR
• AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器精湛的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)...

• AT810數(shù)字20KHz電橋LCR
• AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技精湛的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一...

• AT3818精密300KHz數(shù)字電橋LCR
• AT3818 采用10Hz～300kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0uA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置 AT3818可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描...

• AT3817A精密100KHz數(shù)字電橋LCR
• AT3817A 采用10Hz～100kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0μA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置 AT3817A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可...

• AT3816A精密200KHz數(shù)字電橋LCR
• AT3816A 測(cè)試頻率采用10Hz～200kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.01Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步進(jìn)），##采用純直流信號(hào)DCR測(cè)量，內(nèi)部直流偏壓(DC BIAS, ±2.5V)

• AT3810A精密20KHz測(cè)試儀LCR
• AT3810A采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀,用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選，ATAT3810A為10Hz～20kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步進(jìn)），相對(duì)于AT28系列增加了DC...

• AT2818精密300KHz數(shù)字電橋LCR
• AT2818 采用了真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使用安柏儀器實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) ATOSv4，菜單軟鍵操作，全數(shù)字鍵盤(pán)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理功能強(qiáng)大。 AT2818可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示...

• AT2817A精密100KHz數(shù)字電橋LCR
• AT2817A采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2817A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)...

• AT2817精密100KHz數(shù)字電橋LCR
• AT2817 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù)，使其性能無(wú)可挑剔。 內(nèi)建50Hz~100kHz 16點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。 使用安柏實(shí)時(shí)儀器操作系統(tǒng)，全中文菜單界面，使AT...

• AT2816B精密200KHz數(shù)字電橋LCR
• AT2816B采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2816B可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)...

• AT2816A精密200KHz數(shù)字電橋
• AT2816A采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2816A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)...

• AT2811數(shù)字電橋
• AT2811是通用LCR數(shù)字電橋，是經(jīng)濟(jì)型微型臺(tái)式儀器。測(cè)試頻率： 100Hz，120Hz，1kHz和10kHz，0.1V、0.3V 和 1V 電平可選，30Ω、100Ω源內(nèi)阻可選。 儀器可自動(dòng)測(cè)量電感量 L、 電容量 C、電阻值 R、復(fù)阻抗 Z、品質(zhì)因數(shù) Q、損耗角正切值 D。 AT2811具有很高的性價(jià)比，傻...

• AT610D電容測(cè)試儀
• AT610D 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能電容測(cè)試儀。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

• 磁導(dǎo)率測(cè)試方案
• 測(cè)試頻率范圍：20Hz—120MHz 基本測(cè)試精度：0.05% 無(wú)需在磁環(huán)上纏繞漆包線或絲包線